简要介绍 ■ TH2661型四探针测试仪，可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻，适用于半导体和太阳能材料测试的要求，也可对分立电阻进行测量，USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统计和分析。由于采用了电池和外接电源两种供电方式，既能适应固定场合对元器件进行检测，又可随身携带以满足测试人员的现场测试要求。 TH2661型手持式四探针测试仪

更新时间：2023-10-09

交直流耐压测试仪 SM9805/SM9810型主要功能：漏电流，测试时间连续设定，不合格声光报警，高压击穿保护 SM9815/SM2665 主要功能：漏电流、测试时间连续设定，不合格声光报警，高压击穿保护

更新时间：2023-10-09

交直流耐压测试仪YD2672B/ YD2672B/73B主要功能：漏电流、测试时间连续设定，不合格声光报警，高压击穿保护 YD2673/73A主要功能：漏电流

更新时间：2023-10-09

ZC2511型直流低电阻测试仪是采用四端测量法专门 用来测量低直流电阻的仪器。该产品具有简便的比较功 能，设定方便，显示直观，可广泛用于测量各种线圈的 电阻，电动机、变压器绕组的电阻，电缆的导线电阻， 开关、插头、插座等电器的接触电阻和金属铆接电阻。

更新时间：2023-10-08